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碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹發表時間:2022-02-17 15:03 1:沉降法(fa) 沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)法是(shi)基于顆(ke)粒(li)在液(ye)體中的(de)沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)符合斯托克斯定律這一原則,根據顆(ke)粒(li)在液(ye)體中的(de)最終沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)速度來計(ji)算顆(ke)粒(li)的(de)粒(li)徑。在實際操作中,由于測試顆(ke)粒(li)的(de)最終沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)速度存在較(jiao)大困難,因此,所有沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)儀都是(shi)測量與最終沉(chen)(chen)降(jiang)(jiang)(jiang)速度相關的(de)其(qi)它物理參數,如(ru)壓力、密(mi)度、重量、濃度或光透過率等,進而(er)求得顆(ke)粒(li)的(de)粒(li)徑分(fen)布(bu)。 沉(chen)降(jiang)(jiang)法(fa)又(you)分(fen)為重力(li)沉(chen)降(jiang)(jiang)和離心(xin)沉(chen)降(jiang)(jiang)兩種(zhong),重力(li)沉(chen)降(jiang)(jiang)的測試范圍通(tong)常為0.5 ~ 100μm ,離心(xin)沉(chen)降(jiang)(jiang)可測量的粒徑范圍為0.05 ~ 5μm 。目前,沉(chen)降(jiang)(jiang)式顆粒儀一般都(dou)采(cai)用重力(li)沉(chen)降(jiang)(jiang)和離心(xin)沉(chen)降(jiang)(jiang)相(xiang)結合的方(fang)式 2:電阻法(fa) 電阻法(fa)又(you)稱庫爾特計數法(fa),適合對(dui)(dui)粒(li)度(du)(du)分(fen)布比較(jiao)窄的(de)(de)(de)(de)顆(ke)粒(li)進行測量(liang)。它的(de)(de)(de)(de)工作(zuo)原理相(xiang)對(dui)(dui)比較(jiao)簡單:懸浮(fu)在(zai)電解液中(zhong)的(de)(de)(de)(de)顆(ke)粒(li)在(zai)負(fu)壓(ya)作(zuo)用(yong)下(xia)通(tong)過一個(ge)(ge)由紅寶石制成(cheng)的(de)(de)(de)(de)小孔,兩個(ge)(ge)鉑電極組成(cheng)的(de)(de)(de)(de)電阻式傳感(gan)器分(fen)別插浸(jin)在(zai)小孔的(de)(de)(de)(de)兩側(ce),顆(ke)粒(li)通(tong)過小孔時(shi)電極間(jian)電阻增大,產生一個(ge)(ge)電壓(ya)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)。脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)的(de)(de)(de)(de)幅值對(dui)(dui)應(ying)(ying)于顆(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)體積(ji)和(he)相(xiang)應(ying)(ying)的(de)(de)(de)(de)粒(li)徑,脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)的(de)(de)(de)(de)個(ge)(ge)數對(dui)(dui)應(ying)(ying)于顆(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)個(ge)(ge)數。對(dui)(dui)所有各(ge)個(ge)(ge)測量(liang)到的(de)(de)(de)(de)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)計數并確(que)定其幅值,即(ji)可得出顆(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)大小,統計出顆(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)分(fen)布。電阻法(fa)是今為(wei)止分(fen)辨率最高的(de)(de)(de)(de)粒(li)度(du)(du)分(fen)析技術。
3 激(ji)光衍(yan)射(she)法(fa)(又稱小角前向散(san)(san)射(she)法(fa))是散(san)(san)射(she)式激(ji)光測粒(li)技(ji)術中(zhong)發展最(zui)為(wei)成(cheng)熟、應用(yong)最(zui)為(wei)普遍(bian)的一種方法(fa),它通過測量顆(ke)(ke)粒(li)在前向某一小角度(du)(du)范圍內的散(san)(san)射(she)光能分布,利(li)用(yong)經(jing)典的Mie 散(san)(san)射(she)理論(lun)和(he)對(dui)大顆(ke)(ke)粒(li)適用(yong)的夫瑯(lang)和(he)費理論(lun),求得顆(ke)(ke)粒(li)粒(li)徑的大小和(he)分布。對(dui)于粒(li)徑較大的顆(ke)(ke)粒(li),由(you)于在前向小角度(du)(du)范圍內的散(san)(san)射(she)以衍(yan)射(she)為(wei)主,因此(ci),小角前向散(san)(san)射(she)法(fa)又稱為(wei)衍(yan)射(she)法(fa)。 激(ji)光(guang)衍射(she)法的適(shi)用性廣,粒徑測(ce)(ce)量范(fan)圍寬(kuan),測(ce)(ce)量準確,精度高,重復性好,測(ce)(ce)量速度快,需(xu)要提供的物(wu)理(li)參數少,可在線測(ce)(ce)量等,故而得到廣泛(fan)應用。
將(jiang)激(ji)(ji)光(guang)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)(激(ji)(ji)光(guang)衍射(she)法(fa)(fa))、庫爾特計數儀(yi)(yi)(電阻法(fa)(fa))和離心(xin)粒(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)(沉降法(fa)(fa))這(zhe)三種使用最(zui)普遍的(de)粒(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果相(xiang)比較,對其中位徑D50值的(de)標(biao)準(zhun)方差(cha)進行統計分析(xi)可(ke)得:激(ji)(ji)光(guang)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)的(de)標(biao)準(zhun)方差(cha)平(ping)(ping)均為(wei)0.008;庫爾特計數儀(yi)(yi)的(de)標(biao)準(zhun)方差(cha)平(ping)(ping)均為(wei)0.097;離心(xin)粒(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)的(de)標(biao)準(zhun)方差(cha)平(ping)(ping)均為(wei)0.219。由此可(ke)見,激(ji)(ji)光(guang)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)的(de)測(ce)得的(de)D50值的(de)標(biao)準(zhun)方差(cha)最(zui)小,測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果重復性(xing)最(zui)好,精(jing)度(du)(du)高,離心(xin)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)的(de)測(ce)量(liang)(liang)重復性(xing)及測(ce)量(liang)(liang)精(jing)度(du)(du)相(xiang)對最(zui)差(cha)。 上一篇研磨和拋光有什么區別
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