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白剛玉粒度是如何檢測的呢發表時(shi)間:2021-08-13 17:26 白(bai)剛(gang)玉(yu)(yu)是(shi)磨(mo)料(liao)市場(chang)上面比較常見(jian)的一(yi)種(zhong)磨(mo)料(liao),是(shi)以工(gong)業氧化(hua)鋁(lv)粉(fen)為原(yuan)料(liao),于電弧中(zhong)經2000度(du)以上,在(zai)經過多種(zhong)加工(gong)程序加工(gong)之后獲得的,通過篩分將獲得白(bai)剛(gang)玉(yu)(yu)進行粒(li)度(du)的劃分,就形成了白(bai)剛(gang)玉(yu)(yu)微(wei)粉(fen)、細(xi)粉(fen)等。 白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)磨(mo)料(liao)(liao)(liao)(liao)是一種人(ren)造磨(mo)料(liao)(liao)(liao)(liao),主要成(cheng)分是含量很高(gao)的(de)(de)二氧(yang)化(hua)二鋁(氧(yang)化(hua)鋁粉(fen))高(gao)達90%,其中(zhong)(zhong)含有少量的(de)(de)氧(yang)化(hua)鐵成(cheng)分,整體成(cheng)白(bai)色。白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)磨(mo)料(liao)(liao)(liao)(liao)采(cai)用特殊的(de)(de)冶煉工藝制成(cheng),再(zai)經(jing)過粉(fen)碎整形,磁選去鐵等工藝處理,篩分成(cheng)多種粒(li)(li)(li)度(du)(du)。 白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)粒(li)(li)(li)度(du)(du)是按(an)照(zhao)國家標準(zhun)生產(chan),通用粒(li)(li)(li)度(du)(du)號為(wei) F4~F220,其化(hua)學成(cheng)份視粒(li)(li)(li)度(du)(du)大小而不同。制粒(li)(li)(li)過程中(zhong)(zhong)事先將(jiang)粉(fen)末(mo)、白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)與(yu)粘結劑混合均勻,然后加(jia)溶(rong)劑潤濕再(zai)混合與(yu)制粒(li)(li)(li),每顆(ke)白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)都被子粉(fen)末(mo)包裹,然后冷(leng)壓(ya)成(cheng)形與(yu)燒(shao)結,故防止了(le)(le)粉(fen)末(mo)的(de)(de)偏析及白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)聚(ju)集(ji),進而提高(gao)了(le)(le)制品的(de)(de)燒(shao)結性(xing)(xing)能(neng),均勻性(xing)(xing)與(yu)產(chan)品的(de)(de)穩定性(xing)(xing)。 粉(fen)末(mo)制粒(li)(li)(li)后,白(bai)剛(gang)(gang)玉(yu)(yu)微粉(fen)的(de)(de)流動(dong)性(xing)(xing)得到提高(gao)與(yu)改善,其顆(ke)粒(li)(li)(li)直徑(jing)比原始粉(fen)末(mo)粒(li)(li)(li)徑(jing)大,每個顆(ke)粒(li)(li)(li)周圍可接觸到的(de)(de)顆(ke)粒(li)(li)(li)數目減(jian)少,故其粘附性(xing)(xing),凝聚(ju)性(xing)(xing)與(yu)相互磨(mo)擦力大為(wei)減(jian)弱(ruo),從而改善與(yu)提高(gao)顆(ke)粒(li)(li)(li)料(liao)(liao)(liao)(liao)的(de)(de)流動(dong)性(xing)(xing)。 那白剛玉粒度如何檢測呢(ni)?來了(le)解一(yi)下(xia)吧: (1)篩分法--------優點(dian):簡(jian)單(dan)、直觀、設備造(zao)價低,常用(yong)于大于40um的樣品。 缺點(dian):結果受人為因素和篩孔(kong)變(bian)形影響較大。 (2)顯微鏡(圖像)法(fa)--------優點(dian):簡單、直觀,可進行形貌(mao)分析,適合分布窄(較(jiao)大和較(jiao)小(xiao)粒徑(jing)的比(bi)值小(xiao)于(yu)10:1)的樣品。 缺(que)點(dian):代(dai)表性差,分析分布范圍寬的樣品比(bi)較(jiao)麻煩,無法(fa)分析小(xiao)于(yu)1um的樣品。 (3)沉降法(包括重力沉降和(he)李新沉降)--------優點:操作(zuo)漸變,儀器可(ke)以連續(xu)運行,準確性(xing)和(he)重復性(xing)較(jiao)好,測試范(fan)圍較(jiao)廣。 缺(que)點:測試時(shi)間較(jiao)長,操作(zuo)比較(jiao)繁瑣。 (4)電(dian)阻(zu)法--------優點(dian):操(cao)作漸變可測顆(ke)(ke)粒(li)數,等效概念明確(que),速度快,準確(que)性好。 缺點(dian):不適合測量小于0.1um的顆(ke)(ke)粒(li)樣品,對(dui)粒(li)度分布寬(kuan)的樣品更換小孔管比較麻煩。 (5)激光法--------優(you)點:操作簡便(bian),測試速度(du)快(kuai),測試范(fan)圍廣,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。 缺點:結果受(shou)分布模型(xing)影響較(jiao)(jiao)大,儀(yi)器造價較(jiao)(jiao)高,分辨(bian)力低(di)。 (6)電子顯(xian)微鏡法(fa)--------優點(dian):適(shi)合測(ce)試超新顆(ke)(ke)粒(li)甚至納(na)米顆(ke)(ke)粒(li),分辨(bian)力高,可進行形貌(mao)和(he)結構分析(xi)。 缺(que)點(dian):樣品少(shao),代表性差,測(ce)量易受人為因素(su)影響,儀器價(jia)格昂貴。 (7)光(guang)阻法--------優點(dian):測試便捷快速,可(ke)測液體或氣體中顆粒(li)數,分(fen)辨(bian)力(li)高。 缺點(dian):不適用粒(li)徑小于1umde樣品,進(jin)行系(xi)統(tong)比較講究,僅適合(he)對塵(chen)埃(ai)、污染物或已(yi)稀釋(shi)好(hao)的藥(yao)物進(jin)行測量,對一般粉體用的不多。 (8)透(tou)氣法--------優點(dian):儀器(qi)價格低。不用對樣品進行分散,可測(ce)(ce)測(ce)(ce)性材料粉(fen)體。 缺點(dian):只能(neng)得到(dao)平均(jun)粒度(du)值,不能(neng)測(ce)(ce)粒度(du)分布;不能(neng)測(ce)(ce)小于5um細粉(fen)。 下一篇微硅粉砌塊的產品特點介紹
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